ZX6517A雙頻率測試儀是一種高精度、寬測試範圍的電容參數測量儀器，其優點是可同時測量兩個頻率的C、D、R、Z等參數，可同時滿足電容測試廠商1kHz測試電容，100kHz測試損耗的要求，并标配HANDLER接口支持多檔分選，被廣泛應用于自動化設備生産中，大大提高了測試效率。
●支持雙頻率測試，并多檔分選（ZX6517A）
●支持多參數測試，可分檔并連接自動化設備（ZX8516B_1X）
●不需安裝任何軟件便可實現EXCEL數據的記錄處理。
●鍵盤鎖定功能，掉電數據保護功能
●與國際品牌廠家數據可比性高（Keysight、WK）
●鍵盤鎖定功能，掉電數據保護功能
●簡體中文、英文操作語言
●進行測試數據、測試條件保存（U盤或内部）
●數據即時保存，簡單實用。
●儀器内部50組，U盤500組測試文件，可随時調用
型号 |
ZX8516B-1X |
ZX6517A |
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測試頻率 |
50Hz～200kHz，37個頻率點 |
50、60、100、120、1k、10k、40k、50k、60k、100k(Hz) |
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測試參數 |
C、L、R、Q、X、B、D、|Z|、θ(RAD)、|Y| |
C、D、R、Z |
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測試電平 |
10mV-2Vrms |
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基本準确度 |
0.05% 精度表為準 |
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測試速度 |
快速:40次/秒、中速18次/秒、慢速6次/秒(1kHz以上頻率) |
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顯 示 範 圍 |
|Z|, R, X |
0.01 mΩ～99.9999MΩ |
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|Y|，G，B |
0.00001μS～99.9999S |
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C |
0.00001pF～9.99999F |
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D |
0.00001～9.99999 |
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DCR |
0.01mΩ～99.9999MΩ |
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L |
0.00001μH～99999.9H |
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Q |
0.01～99999.9 |
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θ(RAD) |
-3.14159～3.14159 |
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θ(DEG) |
-179.999 °～179.999° |
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Δ% |
-99.999%～99.999% |
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信号源輸出阻抗 |
30Ω、100Ω |
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内部直流偏置電壓 |
0V、2V |
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量程方式 |
自動、保持 |
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觸發方式 |
内部、手動、自動、外部、總線 |
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校準功能 |
開路/短路,全頻清零、點頻清零 |
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等效電路 |
串聯、并聯 |
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比較器 |
支持多檔分選，可用于自動化設備 |
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PASS、NG LED指示，蜂鳴器指示 | ||||
接口 |
RS232C、UsbHost、USB Device、Handler、GPIB（選件） |
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溫度濕度 |
0℃～40℃，相對濕度≤75% |
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電源要求 |
100～120 Vac或198～242 Vac |
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46～64 Hz，功率大于50 VA | ||||
體積(WxHxD) |
310mmx115mmx315mm |
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重量（淨重） |
4.5Kg |
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●ZX6517A：測量頻率50Hz-100kHz，雙頻測試儀，頻率可設置
●ZX8516B-1X:測量頻率50Hz-200kHz，多參數測試儀，頻率參數可設置
